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蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代$n借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用。無論是在生命科學(xué), 材料科學(xué), 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡整體解決方案中集成了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和風(fēng)險評估功能,是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的優(yōu)秀診斷與預(yù)測工具。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列顯微鏡結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實驗平臺,還是科研或工業(yè)實驗室, 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念,您可基于自身需求隨時升級儀器系統(tǒng)(例如使用LaserFIB進(jìn)行大規(guī)模材料加工)
焊接點熔深低倍檢測顯微鏡 MZX10焊點檢測系列工業(yè)顯微鏡,是PCB焊點的檢測的理想工具。本系統(tǒng)采用特殊光學(xué)系統(tǒng),消除了焊點表面產(chǎn)生的反光,使焊點成像清晰,便于檢測虛焊、脫焊以及焊點的質(zhì)量;成像部分采用我公司自主研發(fā)的專業(yè)顯微成像裝置,可根據(jù)您的需求選配130萬至900萬像
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